1. <fieldset dir='rrtyel'><fieldset id='9amdc2yt'></fieldset></fieldset>
            1. 産品簡介

              BIB(BURN IN BOARD,老化測試),完成封裝測試的IC在特定的工況和時間内老化測試,以檢驗IC的可靠性。BIB就是用于IC老化測試的PCB 闆件。

              關鍵能力