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            半導體測試闆 > probe card

            産品簡介

            探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad,通常作爲Loadboard的物理接口,在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應用:晶元切割前,透過pc可以測試晶圓品質,避免不良産品産生封裝成本。

            應用流程

            關鍵能力